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合作伙伴：河北某半导体材料公司

仪器类型：电感耦合等离子体质谱仪

品牌：安捷伦

型号：ICPMS 7900S

2025年03月22日，河北某半导体材料公司购买我司安捷伦电感耦合等离子体质谱仪ICPMS 7900厂，配置氩氧装置，氢气碰撞装置，有机进样系统，全新铂金锥，是高配中高配，安装调试培训完毕，感谢客户的支持与认可

安捷伦 ICP-MS 7900S 是一款高性能的单四极杆电感耦合等离子体质谱仪，特别适用于半导体材料分析等高要求的应用场景。

仪器特点

高基质耐受性：7900S 具有出色的基质耐受能力，其超稳定的等离子体和可选的超高基质进样系统（UHMI）可处理高达 25% 总溶解固体（TDS）含量的样品。

氦碰撞模式：配备高效的氦碰撞模式（碍贰顿），能够有效消除多原子离子干扰，从而提高分析的准确性和灵敏度。

宽动态范围：具备 11 个数量级的线性动态范围（0.1-10×10^10 cps），可在同一次运行中同时测定痕量与常量元素。

快速信号采集：最短驻留时间可达 0.1 ms，支持单纳米颗粒（spICP-MS）分析。

灵活的配置：可轻松连接到多种外围设备，如激光剥蚀系统、有机溶剂引入系统等。

配置选项

氩氧装置：可用于等离子体气、辅助气和雾化气等，确保等离子体的稳定运行。

氢气碰撞装置：氢气可作为碰撞/反应池气体，用于进一步消除干扰，提高特定元素的检测灵敏度。

有机进样系统：适用于有机溶剂样品的分析，可有效减少样品引入过程中的损失和污染。

半导体材料分析的应用优势

高灵敏度：7900S 在整个质量数范围内具有出色的灵敏度，能够检测到极低浓度的杂质元素。

快速分析：快速信号采集和高效的碰撞/反应池技术，使得分析速度更快，适合高通量的半导体材料检测。

高纯度化学品分析：结合 UHMI 和氦碰撞模式，能够实现高纯度加工化学品的超痕量分析。

典型应用

半导体材料中的杂质检测：能够检测到半导体材料中痕量的金属杂质，如铁、铜、钠等。

高纯度化学品分析：适用于分析用于半导体制造的高纯度化学品，确保其纯度符合要求。

纳米颗粒分析：可用于检测半导体材料中的纳米颗粒，支持单纳米颗粒（蝉辫滨颁笔-惭厂）分析。

安捷伦 ICP-MS 7900S 的这些特点和配置使其成为半导体材料分析的理想选择。如果您有更多具体需求或问题，可以参考安捷伦文档或联系谱标技术支持获取进一步帮助。