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安捷伦Agilent 5800 ICP-OES通过利用氙气的等离子体激发元素并获得元素特征谱线，然后通过分光系统和检测器对这些特征谱线进行分辨和测量，从而实现样品中多种元素的定性和定量分析。由于元素会有多条发射谱线，可能会与其他元素产生干扰或重叠，因此需要进行干扰校正以提高分析的准确性。