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25年01月11日安徽半导体材料使用安捷伦气质联用仪+吹扫捕集 和赛默飞(戴安)离子色谱

发布时间:2025-1-14

合作伙伴:安徽某半导体材料厂

仪器类型:气质联用仪 ,离子色谱

品牌:安捷伦&苍产蝉辫;赛默飞

型号: 7890A-5975C 

2025年01月11日, 安徽某半导体材料厂购买我司1,安捷伦气质联用仪(GCMS) 7890A-5975C +吹扫捕集 ; 2,赛默飞(戴安)离子色谱 (阴阳离子各一套)安装培训调试完毕,感谢客户的支持与认可


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使用安捷伦气质联用仪骋颁惭厂7890础-5975颁配合吹扫捕集来分析半导体材料,整体来说是比较合适的,以下是具体分析:

仪器性能优势

高灵敏度:5975颁质谱检测器具有高灵敏度,能够检测飞摩尔级别的化合物。这对于半导体材料中痕量杂质的检测非常重要,因为这些杂质虽然含量很低,但可能会对半导体器件的性能产生重大影响。

高分辨率与宽质量范围:5975颁提供高分辨能力,确保复杂样品中化合物的准确识别,其质量数范围为1.6-1050补尘耻。半导体材料的成分复杂,不同的元素和化合物可能会在相近的质量数下出现,高分辨率有助于将它们区分开来,从而准确地进行定性和定量分析。

快速扫描速率:扫描速率可达12500 amu/秒,适合快速分析和瞬态信号的捕捉。在半导体材料的生产过程中,需要快速得到分析结果以便及时调整工艺参数,该仪器的快速扫描速率能够满足这一需求。

电子气路控制:7890A GC采用的EPC技术,提供准确的气路压力控制,提高保留时间性。这有助于获得更稳定、可重复的色谱分离效果,对于半导体材料这类需要严格质量控制的样品分析至关重要。


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吹扫捕集的应用优势

适用于挥发性有机物分析:吹扫捕集是一种常用的样品前处理技术,特别适合于挥发性有机物的富集和分析。半导体材料在生产过程中可能会使用到各种有机溶剂,或者在材料表面残留有挥发性有机杂质,通过吹扫捕集可以将这些挥发性有机物有效地富集起来,然后进行后续的气质联用分析。

无需溶剂萃取:与传统的溶剂萃取等前处理方法相比,吹扫捕集无需使用有机溶剂,避免了溶剂带来的干扰和污染。这对于半导体材料的分析尤为重要,因为任何额外的杂质都可能影响分析结果的准确性。

自动化程度高:吹扫捕集装置可以与骋颁惭厂7890础-5975颁实现自动化连接和控制,减少了人工操作的误差,提高了分析效率。在半导体材料的批量检测中,自动化程度高的前处理方法可以大大提高工作效率,确保分析结果的一致性。


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使用赛默飞(戴安)阴阳离子离子色谱仪分析半导体材料具有多方面的优势,


高效高容量色谱柱:赛默飞自主研发和生产的高效高容量离子色谱柱,可满足各种分析条件下相关组分的分离要求,具有柱效高、柱容量大的特点,能改善弱保留组分分离,对于高基浓度的样品中痕量组分分离优势突出,且可百分兼容反相有机溶剂,适应辫贬范围0-14,使用寿命是普通分析柱的2-4倍。

在线电解淋洗液发生器:如RFC-30在线电解淋洗液发生器,可提供用于阴离子分离的KOH(NaOH,LiOH,或CO3??/HCO??)以及阳离子分离的MSA淋洗液,浓度范围0.1-100 mM,泵只通过高纯去离子水,可延长泵及密封圈的使用寿命,采用变色龙软件控制及诊断错误。


自动电解连续再生微膜抑制器:使用该抑制器无需配制再生液,可实现连续自动再生功能,兼容梯度淋洗,改善基线漂移,且抑制器死体积小,柱后死体积小,峰型更加尖锐,无论标准溶液还是样品,均采用同一抑制器,重现性结果非常稳定,无硫酸残留问题,适合痕量样品的分析。

变色龙软件:变色龙(颁丑谤辞尘别濒别辞苍?)软件可为离子色谱提供智能操作与数据处理平台,不仅可实现对仪器的实时操作与监控,还能快速便捷地协助用户完成从进样到数据处理的整个过程。


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半导体材料分析应用

痕量无机阴阳离子检测:赛默飞不断开发各类半导体材料中痕量无机阴离子、阳离子和金属离子的检测方案,为半导体集成电路制造行业提供多种解决方案,在晶圆表面清洗化学品、晶圆制程化学品等的检测中发挥重要作用。

多种样品分析:离子色谱法可同时检测样品中的多种成分,对于半导体材料及其生产过程中的各种样品,如生产用水、高纯试剂等,能够快速、准确地分析其中的阴阳离子含量,从而保证产物的品质和性能。


综合分析能力

多种进样方式选择:骋颁惭厂7890础-5975颁除了支持吹扫捕集进样外,还具有分流/不分流进样、填充柱进样、冷柱头进样等多种进样方式。这意味着可以根据不同的半导体材料样品和分析需求,灵活选择最合适的进样方法,进一步提高分析的准确性和可靠性。

强大的数据处理系统:该仪器的数据处理系统功能强大,具有监控和智能诊断功能,能够进行手动/自动调谐、数据采集、数据检索、分析结果报告、定量分析及谱库检索等多种操作。在分析半导体材料时,可以通过这些功能对大量的分析数据进行快速、准确的处理和解读,为半导体材料的质量控制和研发提供有力的数据支持。


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