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基于干扰物和待测物与反应池气体反应速率的不同，化学反应为待测物和干扰物的分离提供了有效的途径。然而，常规的四极杆 ICP-MS 只有一个质量选择步骤，即位于碰撞反应池后面的四极杆质量分析器，这意味着它无法阻止样品（等离子体、溶剂等）中的离子进入碰撞反应池，因此，常规单四极杆 ICP-MS的化学反应过程是无法控制的。事实上这意味着：

1、来自基质或等离子体的离子（或其他分析物）与反应池气体会发生反应形成新的产物离子。这些离子与被分析物的质量数产生重迭，包括分析物的原位质量数，和其产物离子质量数。

2、与反应池气体反应缓慢（或根本不反应）的现有离子质量数不变，并且可能与分析物产物离子在该质量数产生重迭。

而Agilent 8900使用串联质谱技术，两个四极杆（Q1和 Q2）分别位于ORS4 碰撞反应池前后。第一个四极杆（反应池前面）用于控制进入反应池并发生反应的离子。第二个四极杆（反应池后面）使分析物离子或其产物离子被精准筛选后进入检测器。这种两级质量筛选（MS/MS) 是 ICP-MS/MS 对干扰控制更佳的根本原因。

通过案例常见元素钙（Ca)和钛（Ti）对硫（S）分析的影响，展示使用&濒诲辩耻辞;单四极杆&谤诲辩耻辞;操作和MS/MS模式时反应气方法间的性能差异。在测定中使用典型的氧气质量转移模式，S+与o2反应池气体快速反应，形成了SO+产物离子，质量数M+16,从而避免在质量数32、33和34处对S同位数的多原子重迭。在MS/MS模式下展示SO+的同位素模式，该模式下采用MS/MS测定了10ppb的S标准品，与5%异丙醇、1ppm Ca和1ppm Ti重迭。IPA、Ca和Ti基质对S的测定信号影响极小，S质谱峰的丰度与其理论同位素丰度相匹配，表明共存的 C、Ca 和 Ti 不干扰测定。相比之下，在&濒诲辩耻辞;单四极杆&谤诲辩耻辞;模式下，ArC+、Ca+和Ti+离子不能在进入反应池前被排除，所以它们仍出现在质谱图中，导致干扰了所有SO+产物离子的测定，展示了较差的同位素模板匹配以及 ArC+、Ca+ 和 Ti+ 与 SO+ 的离子重迭。